廣州深華公司提供的梅特勒電子天平XS3DU質量過硬，物美價廉。

技術參數：

極限值

XS3DU 雙量程

最大稱量值 ：3.1 g

可讀性 ：0.01 mg

最大稱量值 ：0.8 g

可讀性： 0.001 mg

重復性(sd) - 加載處 0.006 mg

- 低加載（加載處） 0.005 mg (0.2 g)

重復性(sd) - 加載處 0.001 mg

- 低加載（加載處） 0.0008 mg (0.2 g)

線性誤差 ：0.004 mg

四角誤差：（加載處）1) 0.005 mg (2 g)

典型值 4)

典型重復性（sd） 0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr

典型微分非線性（sd）√2x(10-12)g·R_nt

典型微分四角誤差（sd）1.2 x (10–6)•R_nt

典型靈敏度偏移（sd）2)3 x (10–6)•R_nt

典型最小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) 0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr

典型穩定時間 < 6 sec

穩定時間 < 10 sec

 

1) 根據OIML R76

2) 在10到30°C的溫度范圍內

3) 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性

4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年

* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。1) 根據OIML R76

2) 在10到30°C的溫度范圍內

3) 第一次安裝，使用proFACT校準，靈敏度穩定性

4) 能用于估計不確定度 sd=標準偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重（樣品質量） a=年

* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進：- 選擇適當的稱量參數設置，- 選擇合適的天平放置位置，- 使用較小的去皮容器。

產品功能及介紹：

梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能，完全滿足基礎稱量應用：在800 mg的精細量程范圍內提供1 μg的可讀性。具有同類產品中最佳的重復性可低至0.8 μg，是獲得理想的稱量可靠性的關鍵，避免不必要的重復測試，顯著地降低了樣品和時間的浪費。

 

梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。

標準配置：

內置稱量應用程序

TouchScreen觸摸屏，方便天平稱量和參數設置

SmartTrac彩色動態圖形顯示器：圖形稱量輔助，跟蹤稱量范圍和公差

可設置多達10個特定功能的快捷鍵

可定義3個的信息，用于用戶和樣品標識

內置RS232C和兩個輔助接口；用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件，實現無需用手接觸的稱量操作

第二接口選件插槽；例如LocalCAN，以太網，RS232，MiniMettler，藍牙或PS/2等接口選件

手動開關門的玻璃防風罩

可更換的顯示屏保護蓋

下掛鉤稱量

具有過載保護的稱量傳感器

顯示多種質量單位

差重稱量應用程序

計件和百分比稱量應用程序

統計應用程序

技術指標

 

 

 

專業的深華公司提供專業的產品、專業的售前、售中、售后服務，將使您的工作能夠收到事半功倍的效果。

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