環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及共性問題
[2015/10/12]
一、概況:環(huán)境試驗設(shè)備設(shè)計、生產(chǎn)的依據(jù)是環(huán)境試驗方法,隨著生產(chǎn)力的進(jìn)步、國民經(jīng)濟的發(fā)展,環(huán)境試驗方法的日臻豐富,相應(yīng)的環(huán)境試驗設(shè)備亦隨之日益增多。為了使環(huán)境試驗?zāi)芸煽俊⒊掷m(xù)地得到實施,這就需要有質(zhì)量上乘,性能合格的試驗設(shè)備,而要達(dá)到這一要求,就需有一個統(tǒng)一衡量試驗設(shè)備尺度即環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn),以及環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)。
二、環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)共有九項:
GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件 GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件
GB10588-89長霉試驗箱技術(shù)條件 GB10589-89低溫試驗箱技術(shù)條件
GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件 GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件
GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件 GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件
GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件
2、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)中的共性問題
1)適用范圍:在上述的九項標(biāo)準(zhǔn)中都明確規(guī)定了本標(biāo)準(zhǔn)適用于生產(chǎn)環(huán)境試驗設(shè)備的所有廠家,對該標(biāo)準(zhǔn)所對應(yīng)的產(chǎn)品在作出廠檢驗、型式檢驗、質(zhì)量監(jiān)督檢驗時作為依據(jù)。
2)適應(yīng)性:按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的產(chǎn)品,其性能要符合相對應(yīng)的環(huán)境試驗方法標(biāo)準(zhǔn)中對試驗設(shè)備的要求,按其檢驗要求檢測合格的產(chǎn)品方可出廠。
3)操作性:設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)在貫徹實施過程中基本能得到貫徹執(zhí)行。同時,該類標(biāo)準(zhǔn)在設(shè)備制造廠也應(yīng)用較多。
4)修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的不足之處:九項設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)起草于上世紀(jì)八十年代,隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展,工農(nóng)業(yè)及其他待業(yè)的發(fā)展和需求,修訂設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是必須的。
3、貫徹執(zhí)行過程中的注意事項
1)對基本環(huán)境條件的要求,綜合在一起主要有下列幾項
A)溫度:15℃~35℃
B)相對濕度:不大于85%RH
C)大氣壓強:86Kpa~106Kpa www.oven.cc
D)熱輻射:無陽光起直射,無熱源直接輻射
E)氣流:無強烈氣流,需要時不可直接吹到箱體上
F)電磁場:無強烈電磁場
G)三廢:無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì)
H)冷卻水源:水溫不大于30℃,水壓控制在0.1~0.3Mpa
I)加濕水源:電阻率不低于500Ωm
J)電源:220±22V、380±38V、50±0.5Hz
2)負(fù)載要求:
A)負(fù)載品種:一般可用電工、電子產(chǎn)品或其它產(chǎn)品、零部件及絕緣材料等(鹽霧試驗除外)
B)負(fù)載條件:
負(fù)載總質(zhì)量:50~80Kg/m3
負(fù)載總體積:不大于工作室容積的1/5
阻擋主風(fēng)道總面積:不大于主風(fēng)道所處工作室截面積的1/3
鹽霧試驗設(shè)備:規(guī)格:50*100*(1~2)mm
種類:金屬
樣品數(shù):160塊/m2(工作室水平面面積計)
三、環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)(氣候試驗設(shè)備)
1、現(xiàn)行環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)共有六項:
GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備
GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備
GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備
GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T5170.11-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法腐蝕氣體試驗設(shè)備
2、方法標(biāo)準(zhǔn)的幾個共同問題
1)標(biāo)準(zhǔn)適用范圍:在六項方法標(biāo)準(zhǔn)中明確規(guī)定了該類標(biāo)準(zhǔn)是環(huán)境試驗設(shè)備在進(jìn)行周期檢定時檢定項目的確定,檢測儀器的選用,以及檢定條件、測試點數(shù)量、布點位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容的執(zhí)行依據(jù)。
2)適應(yīng)性:按方法標(biāo)準(zhǔn)檢測合格的設(shè)備,可在規(guī)定期限內(nèi)繼續(xù)進(jìn)行相關(guān)的環(huán)境試驗。
3)操作性:本類標(biāo)準(zhǔn)在環(huán)境試驗設(shè)備使用單位應(yīng)用居多,試驗設(shè)備生產(chǎn)廠應(yīng)用為少。
3、貫徹執(zhí)行過程中的幾個注意點:
1)各分標(biāo)準(zhǔn)使用時應(yīng)與總則一起使用。
2)對于復(fù)合試驗設(shè)備的周期檢定要若干分標(biāo)準(zhǔn)及總則一起使用
3)檢定條件:由總則規(guī)定,其內(nèi)容與設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)相一致。
4)負(fù)載要求:由總則規(guī)定,其內(nèi)容按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中規(guī)定保持一致。
四、設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)與檢定方法標(biāo)準(zhǔn)差異辨析
對照內(nèi)容 |
設(shè)備標(biāo)準(zhǔn) |
方法標(biāo)準(zhǔn) |
適用范圍 |
產(chǎn)品的出廠檢驗及型式檢驗與質(zhì)量監(jiān)督檢驗 |
試驗設(shè)備的周期檢定 |
環(huán)境條件 |
具有一致性 | |
負(fù)載條件 |
有三項要求(鹽霧試驗箱例外) |
按設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)GB11158中的規(guī)定 |
檢驗項目 |
對生產(chǎn)好的產(chǎn)品進(jìn)行綜合性能檢驗(包括標(biāo)志、包裝、儲存) |
按試驗方法要求對試驗設(shè)備進(jìn)行檢驗 |
受檢對象 |
生產(chǎn)線上裝配、調(diào)試完成后的產(chǎn)品 |
外形、結(jié)構(gòu)、標(biāo)志完好控制系統(tǒng)無明顯缺陷、控制精度符合要求安全裝置功能正常 |
檢驗類型 |
型式檢驗、出廠檢驗、仲裁檢驗 |
周期檢驗 |
檢驗結(jié)果分類 |
合格、不合格、批合格、批不合格 |
合格、準(zhǔn)用、停用 |
結(jié)果處理 |
合格出廠、不合格不準(zhǔn)出廠批不合格、逐臺檢驗質(zhì)量監(jiān)督檢驗,合格續(xù)產(chǎn)不合格停產(chǎn)整頓 |
合格—發(fā)合格證(或部分合格限使用范圍) |
五、設(shè)備極其參數(shù)檢定標(biāo)準(zhǔn)與試驗方法標(biāo)準(zhǔn)的對應(yīng)選擇
1、根據(jù)受試產(chǎn)品規(guī)定的試驗方法確定環(huán)境試驗設(shè)備的種類,現(xiàn)行設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)是一種產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對應(yīng)一類設(shè)備,可作多種試驗的復(fù)合試驗箱需執(zhí)行多個設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。
2、根據(jù)試驗方法要求,對設(shè)備進(jìn)行周期檢定時,可選用一個或多個檢定方法標(biāo)準(zhǔn)對試驗設(shè)備進(jìn)行檢定。
3、幾種常用的不同試驗方法所需設(shè)備的檢定方法標(biāo)準(zhǔn)
試驗方法標(biāo)準(zhǔn) |
檢定方法標(biāo)準(zhǔn) | ||
代號 |
名稱 |
代號 |
名稱 |
GB2423.1 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗A:低溫 |
GB5170.2 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備 |
GB2423.1 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境第2部分試驗方法試驗B:高溫 | ||
GB2423.22 |
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗N:溫度變化試驗方法 | ||
GB2423.3 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ca:恒定濕熱 |
GB5170.5 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備 |
GB2423.4 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Db:交變濕熱 | ||
GB2423.9 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Cb:設(shè)備用恒定濕熱 | ||
GB2423.16 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗J:長霉 | ||
GB2423.17 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Ka:鹽霧 |
GB5170.8 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備 |
GB2423.18 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法試驗Kb:交變鹽霧 | ||
GB2423.19 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kc:接觸點和連接件的二氧化硫試驗 |
GB5170.11 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 |
GB2423.20 |
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分試驗方法 Kd:接觸點和連接件硫件氫試驗方法 |
六、進(jìn)行環(huán)境試驗過程中的幾個注意點
1、合理選擇設(shè)備溫濕度范圍及控制精度
2、注意受試品的體積、重量及擋風(fēng)橫截對設(shè)備主性能的影響
3、設(shè)備安置場所環(huán)境條件 高低溫試驗箱
4、適當(dāng)選擇試驗的嚴(yán)酷度
七、結(jié)束語:通過對環(huán)境試驗設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)及電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)的初步分析,兩類標(biāo)準(zhǔn)各自有其獨立性,但相互之間又具有一定的關(guān)聯(lián)性。因此,準(zhǔn)確理解兩類標(biāo)準(zhǔn)的適用范圍,熟悉兩類標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)內(nèi)容的根本差異,是我們準(zhǔn)確貫徹、切實執(zhí)行兩類標(biāo)準(zhǔn)的前提。愿我們在今后的事業(yè)中為貫徹執(zhí)行好這兩類標(biāo)準(zhǔn)而共同努力。