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光譜干擾
[2013/10/21]
總的來說,原子吸收法中干擾效應比原子發射光譜法要小得多,原因如下:
①.AAS法中使用銳線光源,應用的是共振吸收線,而吸收線的數目比發射線少得多,光譜重疊的幾率小,光譜干擾少;
②.AAS法中,涉及的是基態原子,故受火焰溫度的影響小。但在實際工作中,干擾仍不能忽視,要了解其產生的原因及消除辦法。
在原子吸收光譜法中,干擾主要有物理干擾、化學干擾、光譜干擾和背景干擾等四類。
一、 光譜干擾
1.與光源有關的光譜干擾
①.待測元素的分析線周圍有鄰近線引起的干擾
a. 與待測元素的分析線鄰近的是待測元素的譜線(單色器不能分開)。如鎳HCL發射的譜線(如圖8-19),若選232.0nm的共振線作分析線,其周圍有很多鄰近線(非共振線),如果單色器不能將其鄰近譜線分開,就會產生干擾,使測定的靈敏度下降,工作曲線彎曲。
消除的方法:減小狹縫寬度(如圖8-20)。
b. 與待測元素的分析線鄰近的是非待測元素的譜線(單色器不能分開)。如果此線為非吸收線,同樣會使測定的靈敏度下降,工作曲線彎曲;如果為吸收線,則產生假吸收,引起正誤差。這種現象常見于多元素燈。
消除的方法:采用單元素燈。
②.HCL有連續背景發射,連續背景發射,不僅使測定的靈敏度下降,工作曲線彎曲,當共存元素的吸收線處于背景發射區時,有可能產生假吸收。因此不能使用有嚴重背景發射的HCL。
消除的方法:遇到此情況,應更換燈。
①.AAS法中使用銳線光源,應用的是共振吸收線,而吸收線的數目比發射線少得多,光譜重疊的幾率小,光譜干擾少;
②.AAS法中,涉及的是基態原子,故受火焰溫度的影響小。但在實際工作中,干擾仍不能忽視,要了解其產生的原因及消除辦法。
在原子吸收光譜法中,干擾主要有物理干擾、化學干擾、光譜干擾和背景干擾等四類。
一、 光譜干擾
1.與光源有關的光譜干擾
①.待測元素的分析線周圍有鄰近線引起的干擾
a. 與待測元素的分析線鄰近的是待測元素的譜線(單色器不能分開)。如鎳HCL發射的譜線(如圖8-19),若選232.0nm的共振線作分析線,其周圍有很多鄰近線(非共振線),如果單色器不能將其鄰近譜線分開,就會產生干擾,使測定的靈敏度下降,工作曲線彎曲。
消除的方法:減小狹縫寬度(如圖8-20)。
b. 與待測元素的分析線鄰近的是非待測元素的譜線(單色器不能分開)。如果此線為非吸收線,同樣會使測定的靈敏度下降,工作曲線彎曲;如果為吸收線,則產生假吸收,引起正誤差。這種現象常見于多元素燈。
消除的方法:采用單元素燈。
②.HCL有連續背景發射,連續背景發射,不僅使測定的靈敏度下降,工作曲線彎曲,當共存元素的吸收線處于背景發射區時,有可能產生假吸收。因此不能使用有嚴重背景發射的HCL。
消除的方法:遇到此情況,應更換燈。
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